利用磁光克尔效应计算材料的介电张量非对角元

曹克，张霞，王玉颖，孙学博，孔祥和
(曲阜师范大学 物理工程学院 山东省激光偏光信息重点实验室，山东 曲阜 273165)

　　摘　要： 利用磁控溅射的方法制备了Ag和Ag/Co双层薄膜样品. 通过椭偏测量和磁光克尔测量，得到薄膜样品的有效光学常量和有效磁光参量，并通过数值分析得到介电张量的非对角元. 实验结果表明：用通常公式计算和磁光测量与椭偏测量结合计算非磁样品Ag薄膜的光学常量的结果一致，验证了基于磁光测量方法计算介电张量非对角元的正确性.
　　关键词： 磁光克尔效应；光学常量；介电张量非对角元

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