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wenzhang:1809:ck

利用磁光克尔效应计算材料的介电张量非对角元

曹克,张霞,王玉颖,孙学博,孔祥和
(曲阜师范大学 物理工程学院 山东省激光偏光信息重点实验室,山东 曲阜 273165)

  摘 要: 利用磁控溅射的方法制备了Ag和Ag/Co双层薄膜样品. 通过椭偏测量和磁光克尔测量,得到薄膜样品的有效光学常量和有效磁光参量,并通过数值分析得到介电张量的非对角元. 实验结果表明:用通常公式计算和磁光测量与椭偏测量结合计算非磁样品Ag薄膜的光学常量的结果一致,验证了基于磁光测量方法计算介电张量非对角元的正确性.
  关键词: 磁光克尔效应;光学常量;介电张量非对角元

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wenzhang/1809/ck.txt · 最后更改: 2018/10/27 21:52 由 guoweilw