跳至内容
用户工具
注册
登录
站点工具
搜索
工具
显示源文件
修订记录
反向链接
最近更改
媒体管理器
网站地图
登录
注册
>
最近更改
媒体管理器
网站地图
杂志简介
编委简介
推介文章
典型案例
过刊下载
公告栏
教学仪器
相关下载
wenzhang:1809:ck
利用磁光克尔效应计算材料的介电张量非对角元
曹克,张霞,王玉颖,孙学博,孔祥和
(曲阜师范大学 物理工程学院 山东省激光偏光信息重点实验室,山东 曲阜 273165)
摘 要:
利用磁控溅射的方法制备了Ag和Ag/Co双层薄膜样品. 通过椭偏测量和磁光克尔测量,得到薄膜样品的有效光学常量和有效磁光参量,并通过数值分析得到介电张量的非对角元. 实验结果表明:用通常公式计算和磁光测量与椭偏测量结合计算非磁样品Ag薄膜的光学常量的结果一致,验证了基于磁光测量方法计算介电张量非对角元的正确性.
关键词:
磁光克尔效应;光学常量;介电张量非对角元
文章下载
wenzhang/1809/ck.txt
· 最后更改: 2018/10/27 21:52 由
guoweilw
页面工具
显示源文件
修订记录
反向链接
回到顶部